DB52T 796-2013 工业半导体电雷管 22页

ICS74.100.30G89DB52贵州省地方标准DB52/T796—2013工业半导体电雷管Industrialsemiconductorelectricdetonator2013-01-16发布2013-02-16实施贵州省质量技术监督局发布\n\nDB52/T796—2013目次前言................................................................................II1范围..............................................................................12规范性引用文件....................................................................13术语和定义........................................................................14规格、品种........................................................................25要求..............................................................................26试验方法..........................................................................37检验规则..........................................................................48包装、运输与储存..................................................................6附录A（规范性附录）逐批计数调整型抽样检查实施的说明................................7附录B（规范性附录）升降法测定发火冲能试验程序.....................................10I\n\n学兔兔www.bzfxw.comDB52/T796—2013前言本标准按照GB/T1.1-2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则起草。请注意：本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由贵州久联民爆器材发展股份有限公司提出。本标准由贵州省经济和信息化委员会归口。本标准起草单位：贵州久联民爆器材发展股份有限公司。本标准主要起草人：占必文、彭文林、聂煜、刘国应、欧阳玲、陈辉峻、龚西菊。II\n\nDB52/T796—2013工业半导体电雷管1范围本标准规定了工业半导体电雷管的品种、要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输及储存等内容。本标准适用于工业半导体电雷管生产和验收过程。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB190危险货物包装标志GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划GB/T2829周期检验计数抽样程序及表（适用于对过程稳定性的检验）GB/T6378.1计量抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的对单一质量特性和单个AQL的逐批检验的一次抽样方案GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定GB/T13226工业雷管铅板试验方法GB18014电雷管引爆用聚氯乙烯绝缘电线GB18096煤矿许用电雷管可燃气安全度试验方法WJ231震动试验机WJ/T9010工业雷管包装用瓦楞纸箱GJB151A-97军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求GJB152A-97军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量GJB5309.14火工品试验方法第14部分：静电放电试验Q/JL52-2010编码雷管3术语和定义下列术语和定义适用于本文件。3.1半导体电雷管semiconductorelectricdetonator以半导体桥为发火元件的电雷管。3.2半导体桥semiconductorbridge1\nDB52/T796—2013是利用微电子制造技术使一种或多种金属或其他材料有控制地沉淀于硅片上，形成的单层或多层半导体复合桥膜作为换能的器件。4规格、品种4.1品种工业半导体电雷管按通电后爆炸时间不同以及是否允许用于有沼气或煤尘爆炸危险的工作面,作如下分类:普通瞬发半导体电雷管瞬发半导体电雷管煤矿许用瞬发半导体电雷管4.2规格适用于4号、6号、8号、10号工业半导体电雷管。5要求5.1外观5.1.1雷管表面不应有目视可见的浮药、管体锈蚀、开裂、砂眼、排气孔露孔、底部残缺,封口塞松动或过高、过低等缺陷。5.1.2脚线不应有绝缘层破损和芯线锈蚀。5.2管壳材料半导体电雷管壳允许使用铜、覆铜钢、铝、铁。煤矿许用型半导体电雷管的管壳只允许用铜、覆铜钢。5.3脚线材料半导体电雷管的脚线材料应符合GB18014的要求。由两种不同颜色的聚氯乙烯绝缘电线组成。5.4尺寸5.4.1管壳和加强帽雷管管壳：长度的精度：±0.5mm。加强帽的传火孔直径：2.0mm±0.1mm。5.4.2脚线常规雷管脚线长度规定为2.0m，公差应为名义值的±5%。5.5性能半导体电雷管的性能必须达到表1的规定。2\nDB52/T796—2013表1性能指标项目性能半导体电雷管全电阻合格范围(4.0～5.5)Ω,半导体桥电阻范围为(2.0～2.5)Ω(由生产工艺电阻保证)。安全电流对串联20发的半导体电雷管通以0.300A,持续时间5min,不应出现爆炸。单发发火电压单发发火电压应不大于100V。发火冲能(10～20)mJ/Ω起爆能力8号半导体电雷管应炸穿5mm厚铅板，穿孔直径不应小于雷管外径。串联起爆电压对串联连接的20发半导体电雷管通以1600V恒定电压，应全部发火起爆。震动试验按6.7检验应合格。封口牢固性试验荷重2.0kg，持续1min，封口塞和脚线不得发生肉眼可见的移动和损坏。可燃气安全度煤矿许用半导体电雷管经6.9检验应合格。静电试验半导体电雷管经6.10检验应合格。辐射试验半导体电雷管经6.11检验应合格。6试验方法6.1外观检查目测目视检查外观质量参照附录A的规定执行。6.2电阻测定测定电阻的仪器通过半导体电雷管的电流不得大于30mA，电压5V，电阻表误差不大于0.1Ω，测量时雷管应置于防险罩内。6.3发火冲能的测定参照附录B。6.4单发发火电压参照附录B。6.5安全电流试验向半导体电雷管通以恒定直流电，电流强度为0.30A，电流表误差不得大于0.01A,持续5min，半导体电雷管不发生爆炸。6.6起爆能力将半导体电雷管直立在直径30mm～40mm的铅板上,然后对半导体电雷管通电,观察铅板被炸穿的情况。试验用铅板应符合GB/T13226的规定。4mm厚铅板的技术条件参照5mm厚铅板执行。本试验可与串联起爆电压合并试验。3\nDB52/T796—20136.7震动试验将经过电阻检验合格的半导体电雷管平放装入专用纸盒中,纸盒放入震动试验机的木箱底部中央,纸盒内外空隙塞紧,压紧箱盖,连续震动10min,然后取出测量电阻及检查其它项目。震动试验机应符合WJ231的要求,频率为60±1次/min,落高为150±2mm。6.8封口牢固性试验将2.0kg重物悬挂在半导体电雷管脚线上,持续1min,然后取下,肉眼检查封口塞、脚线受拉后移动或破损情况。6.9可燃气安全度按GB18096执行。煤矿许用瞬发半导体电雷管周期为2年，煤矿许用毫秒延期半导体电雷管为一年半。判别水平Ⅲ,RQL=10，二次抽样方案,即(25,25/1,3;2,3)方案。由国家指定机构检验。如不合格必须立即停止生产并改进工艺，直至送检合格为止。6.10静电试验先对高压系统进行多次充、放电操作后，再对高压系统对地短路。做一次预先试验演示。将每只雷管的两根脚线绞接成一个电极，再用导线紧密绕接雷管壳体做成另一个电极，半导体电雷管与高压电源可靠连接，启动系统，完成试验。半导体电雷管25KV静电感度试验，全部采用军用雷管相关标准规程，符合GJB5309.14的规定。6.11辐射试验按GJB151A-97和GJB152A-97标准执行半导体电雷管辐射试验。6.12串联起爆电压工业半导体电雷管串联20发，通以起爆电压（恒定直流电压）1600V，雷管应全部起爆。7检验规则7.1检验分类产品检验分出厂检验和型式检验。型式检验在生产定型、投入验收、停产半年以上恢复生产或原材料、产品结构、生产工艺发生重大变化可能影响产品性能时进行。7.2检验项目检验项目见表2。表2检验项目出厂检验序号检验项目型式检验试验方法的章节号逐批检验周期检验1外观√—√6.12电阻√—√6.24\nDB52/T796—2013表2检验项目（续）出厂检验序号检验项目型式检验试验方法的章节号逐批检验周期检验3发火冲能——√6.34单发发火电压——√6.45安全电流√—√6.56起爆能力√—√6.67抗震性能√—√6.78抗拉性能—√√6.89可燃气安全度——√6.910静电性能——√6.1011辐射性能——√6.1112串联起爆电压√—√6.127.3分批半导体电雷管组批验收:批量为3000～10000发,按订单组批。不足3000发的订单可以多张合并组批，也可组成不足3000发的特殊批。7.4抽样方案抽样方案和缺陷分类见表3。值取0.4，检验水平Ⅱ（参见附录A）。表3抽样方案和缺陷分类抽样方案检查项目缺陷分类缺陷组的AQL检查水平重缺陷：管体裂缝、严重砂眼、无箍或箍0.4Ⅱ开裂轻缺陷：雷管底部缺陷、管体锈蚀、浮药、外观检查脚线芯线有锈迹、导线绝缘破损、多卡箍、1.0Ⅱ无段别标志或标志不正确、排气孔露孔重缺陷：断路、短路、电阻不稳0.25Ⅱ电阻检查轻缺陷：电阻超差0.65Ⅱ铅板实验（合并实验和重缺陷：雷管瞎火、半爆、铅板未穿透1.0S-4判定）轻缺陷：铅板穿孔孔径小于雷管外径、1.5S-4致命缺陷：震动爆炸(20/0,1)震动试验重缺陷：结构损坏、断路、短路、电阻不(20,20/0,2;1,2)稳安全电流试验试验中发生爆炸(20/0,1)不允许编码字迹不清、错码、漏码、重码编码0.4Ⅱ（允许与外观检验合并）5\nDB52/T796—20137.5震动试验的补充规定震动中如发生爆炸,则除该批产品报废外,工厂要立即采取措施确保产品(包括已入库的和尚未入库的)合格,否则不能继续生产。7.6单发发火电压和发火冲能此两项为产品定型以及电发火机构有所改进时必须测定和保证的指标。平时由工艺保证。7.7封口牢固性试验按GB/T2829执行周期检查。每周进行一次。如不合格该批退回工厂返修,并采取措施改进生产工艺。缺陷为可见零件移位或破损,不合格质量水平(RQL)为12,判别水平Ⅱ。即按抽样方案(20,20/0,2;1,2)检验验收。8包装、运输与储存8.1内包装每100发2m长脚线半导体电雷管装一盒,包装盒应采用塑料袋热合密封防潮,并附有标志。半导体电雷管在盒内不得有松动现象。脚线长度增加时,允许变动盒内半导体电雷管的数量。包装要有标记,注明品名、数量、制造日期等。包装箱内应附有产品说明书。箱外需有厂名、产品名称、脚线长度、数量、批号、毛重、体积、制造日期、“轻拿轻放”和“防火防潮”等字样,以及爆炸品标志按GB190执行。包装箱应用封条、火漆等形式封箱。8.2外包装每10盒半导体电雷管装入一个箱内。包装盒在箱内不得有松动现象。包装箱应符合WJ/T9010规定。8.3标志8.3.1编码编码的字体和规则必须符合Q/JL52要求。8.4运输工业半导体电雷管的运输应符合国家有关危险货物运输的规定。8.5储存工业半导体电雷管应在原包装条件下，贮存在通风良好、干燥、防火、防盗的库房内。瞬发半导体电雷管从制造日期起保质期为24个月。6\nDB52/T796—2013AA附录A（规范性附录）逐批计数调整型抽样检查实施的说明A.1连续批的规定图中未列出的封口牢固性等非逐批检验项目进行检验时,可不必事先进行其它项目的检验连续批的规定。本标准的外观、电阻、串联准爆电压和铅板试验是计数调整型抽样检查项目。按GB/T2828.1的规定,它们必须是连续批的指标。是否符合连续批的条件,首先应按GB/T2828.1和GB/T6378.1的规定衡量。本附录补充如下规定:a)某一半导体电雷管品种不可能连续生产20批以上时,不能作为连续批；b)连续批检查实施过程中,不得任意中止,再重新开始；c)连续批非因质量问题停止生产不超过40天又开始生产(其它条件亦无变化)时,可接前批连续实施抽样检查。A.2批量本标准规定批量可在3201～150000之间由工厂自行规定。A.3抽样方案抽样方案按批量从表A.1中选取。表A.1计数调整型抽样方案表AQL检查水批量严格性平II0.25(电阻，重缺陷)0.4（外观，重缺陷)0.65(电阻，轻缺陷)正常（125,125/0,2;1,2）(125,125/0,3;3,4)(125,125/1,3;4,5)(125,125/0,2;1,2)(L)加严(200,200/0,2;1,2)(M)(200,200/1,3;4,5)(M)（200,200/0,3;3,4)(M)3201～10000L(50,50/0,2;1,2)(L)放宽(80,80/0,2;1,2)(M)(80,80/0,3;3,4)(M)(80,80/0,2;1,2)(M)(50,50/0,3;3,4)(L)特宽(80,80/0,3;3,4)(M)(80,80/1,5;5,6)(M)(80,80/1,3;4,5)(M)7\nDB52/T796—2013表A.1计数调整型抽样方案表（续）AQL检查水批量严格性平II0.25(电阻，重缺陷)0.4（外观，重缺陷)0.65(电阻，轻缺陷)正常(200,200/0,3;3,4)(200,200/1,3;4,5)(200,200/2,5;6,7)加严(200,200/0,2;1,2)(200,200/0,3;3,4)(200,200/1,3;4,5)10001～15000M放宽(80,80/0,2;1,2)(80,80/0,2;1,2)(80,80/0,3;3,4)特宽(80,80/0,3;3,4)(80,80/1,3;4,5)(80,80/1,5;5,6)注1：方案后括号内字码说明原字码在该AQL值下无方案,应选用的方案字码。注2：栏内有双行方案者,下面一行的方案为了管理上的方便(样本大小一致)应采用的方案;而上面的规则是不考虑样本大小管理是否方便的情况下可采用的方案。A.4抽样检查的实施抽样检查实施的程序如图A.1外观电阻震动安全电流串联和铅板穿孔试验图A.1检验流程A.5样本大小不足时的处理8\nDB52/T796—2013前一项检验的样本大小,不够后一项检验所用时,可以从本批中另取样本补足本项检验用的样本。这些另取的样本不必再重复前面已经合格项目的检验。A.6串联准爆电压和铅板试验合并判定和转移本标准将串联准爆电压和铅板试验的所有重缺陷组成一个缺陷组,所有轻缺陷组成一个缺陷组,按选定的抽样方案进行验收以及严格性转移。A.7严格性调整的补充规定本标准严格性调整规则执行GB/T2828.1的规定。为了管理的方便,严格性调整按检验项目分别进行,而一个项目内不按轻重缺陷分别调整。这就是说,在一个检验项目内,轻重缺陷组只要有一个应向较严等级转移时,就全转移；反之,一个检验项目中只有轻重缺陷组都符合向较宽一级转移条件时才能转移。A.8批量非连续的组批原则及批量与本标准对连续批规定同。A.9计数抽样方案外观、电阻、串联准爆电压和铅板试验的抽样验收方案如表A.2。表A.2抽样验收方案对应于连续批35001～150000批量3201～1000010001～35000验收方案AQL检查水平重缺陷(200,200/1,3;2,3)(315,315/2,4;4,5)(500,500/3,7;6,7)0.4Ⅱ外观轻缺陷(200,200/3,7;6,7)(315,315/5,9;10,11)(500,500/8,11;16,17)1.0Ⅱ重缺陷(200,200/0,2;1,2)(315,315/1,3;2,3)(500,500/2,4;4,5)0.25Ⅱ电阻轻缺陷(200,200/2,4;4,5)(315,315/3,7;6,7)(50,50/5,9;10,11)0.65Ⅱ串联重缺陷(50,50/0,2;1,2)(50,50/0,2;1,2)(80,80/1,3;2,3)1.0S-4铅板轻缺陷(50,50/1,3;2,3)(50,50/1,3;2,3)(80,80/2,4;3,4)2.5S-49\nDB52/T796—2013BB附录B（规范性附录）升降法测定发火冲能试验程序B.1概述采用电容放电法测试工业电雷管的发火冲能，按下列升降法试验统计计算程序进行。程序中发火刺激量X分别表示发火电压，x分别表示发火概率为50%时的发火电压。B.2试验设计B.2.1初始电压水平(X)的选定可根据同类产品的资料，用数发试样进行试验，找出最小和最大不发火电压，然后取两者的中位数作为初始电压水平（X）。B.2.2试验步长(d)的确定根据找出的最小发火量和最大不发火量电压的差值，确定电压步长。并使试验结果满足σ〈d〈1.5σ(σ为发火电压的标准差)。一般应使电压水平为４～６个。B.2.3发火依据以雷管爆不爆炸进行判定。B.2.4升降法规则在Xj（j=1，2……）水平下发火，在Xj+1水平应减小一个步长d，反之，应增加一个步长d。每次升降幅度采用相同的步长。B.2.5注意事项每次雷管只能试一次，不准重复试验，对不发火的雷管，与测试电路断开后应停留一段时间，方可从防爆箱内取出，并置于安全防护罩内等待处理。B.3试验记录和整理B.3.1记录格式试验记录和数据统计分别使用表格表示。10\nDB52/T796—2013示例1：刺激量水平试验序号（单位：）1234567891011……X-3d=X-2d=0001X-d=11100X=11X+d=X+2d=X+3d=注：发火用“1”表示，不发火用“0”示例2：数据统计刺激量水平I检验结果结果整理22（单位：）nn׳ininin׳inX-3d=X-2d=X-d=X=X+d=X+2d=X+3d=22ΣN=ΣniN=Σni׳A=ΣiniB=ΣiniA=Σini׳B=Σini׳B.3.2数据的取舍原则有效样本数应从首端出现相反的符号的前一发开始记数，至尾端出现相反符号的后一发。如示例1中数据首端应从第二发开始记数，尾端应记至第七发。B.3.3有效样本量（N）的确定经过数据取舍后，一般发火总数（N=Σni）与不发火总数（N=Σni׳）应相等或相差一发。相等的时候选N=Σni，不相等的时候选数值最小的一个，作为有效样本量（N），有效样本量（N）不应少于20发。B.3.4统计量A、B的计算：2统计量A、B的计算应该与有效样本量一致，用发火总数时，A=Σini，B=Σini，用不发火总数时，2A=Σini׳，B=Σini׳。其中i为各试验电压水平所构成的等差数列的序号。电压最小值（Xo）对应于i=0。B.4统计计算B.4.1发火概率为50%时的发火电压11\nDB52/T796—2013按公式（B.1）计算：A1x=Xo+d（±）.................................(B.1)N2式中：x——发火概率为50%时的发火电压；Xo——对应于I等于0的电压最小值；d——步长；A——统计量；N——有效样本量。B.4.2样本标准差（S）按公式（B.2）计算：S=1.620（M+0.029）.............................(B.2)22M=（NB-A）/N式中：S——样本标准差；D——步长；N——有效样本；A、B——统计量。B.4.3发火电压的上下限按公式（B.3）计算：Xp=x+U（P）S....................................(B.3)式中：Xp——发火电压的上、下限；x——发火概率为50%时的发火电压；U（P）——计算发火电压上限时，U（P）取正值；计算发火电压下限时，U（P）取负值；S——样本标准差。注：公式（B.3）中的U（P）值。若规定置信水平为0.95。发火概率上限Pu取99.99%时，U（P）为3.719；发火概率为下限PL取0.01%时，U（P）为-3.719。B.4.4结果的表述分别按公式（B.4）和(B.5）计算发火冲能和安全冲能：123Ka=CU×10..................................(B.4)a2R式中：Ka——发火冲能的数值，单位为毫焦每欧（mJ/Ω）；R——放电回路总电阻的值，单位为欧姆（Ω）；C——电容器容量的数值，单位为微法（μF）；Ua——发火概率为上限Pu的发火电压数值，单位为伏特（V）。123Ks=CU×10..................................(B.5)s2R12\nDB52/T796—2013式中：Ks——发火冲能的数值，单位为毫焦每欧（mJ/Ω）；R——放电回路总电阻的值，单位为欧姆（Ω）；C——电容器容量的数值，单位为微法（μF）；Us——发火概率为上限PL的发火电压数值，单位为伏特（V）。结果精确至一位小数，数值修约按GB/T8170的规定进行。B.5电容放电法B.5.1原理将容量为22μF，耐压250V的电容充电至一定电压，在串联总电阻为10Ω电阻的线路中对试样雷管进行放电，为试样提供起爆冲能，在给定的置信水平下，分别计算出试样发火概率为上限Pu和发火概率下限PL的发火电压，然后计算发火冲能和安全冲能。B.5.2仪器、装置B.5.3测试装置一套其电路原理图如图B.1所示。图B.1电容放电法测试装置电路原理图E——直流稳压电源或蓄电池，输出电压应高于测试所需最高发火电压；K1——双联开关；K2——开关；K3——双掷水银开关；R1——线绕变阻器，阻值不小于3KΩ，功率不小于10W；R2——固定电阻，阻值不小于2KΩ，功率不小于1W；R3——线绕变阻器，阻值为10Ω；Ω——电阻表，精确±0.1Ω；C1——电解电容，电容量为22μF±5%，耐压160V；13\nDB52/T796—2013D——被测试样。B.5.4防爆箱一只。B.5.5试样准备试样应该经过电阻检验合格，样本量为50发。B.5.6试验步骤试验程序按照以下规定进行。a)试样总数取50，确定充电电压初始值和步长；b)将测试装置各开关置于图B.1所示的位置，将一发被测试样置于防爆箱箱内，然后将试样的脚线连接到测试装置的电源输出端；c)闭合K3，调节R3，使电阻表的读数为10Ω（当被测试样的电阻大于或等于10Ω时，应选择比被测电阻大的放电电阻），然后断开；d)接通开关K1，对电容C1充电至选定的电压值，将K2转向放电电路，对试样放电。观察雷管是否爆炸，并根据试验结果将下一发的充电电压减少或增加一个步长；e)重复b）至d）试验步骤，直至试验完规定的试样；f)遵照本附录中的统计方法，计算发火概率为50%的发火电压x和样本标准差S，并根据给定置信水平下发展的发火概率上限Pu和发火概率下限PL，分别计算出发火概率为Pu的发火电压和发火概率为PL的发火电压。发火电压计算结果精确至0.01V，数值修约按GB/T8170的规定进行。_________________________________14\n\nDB52/T796-2013